TE173鋸齒效應(yīng)測(cè)試卡

測(cè)試卡介紹

鋸齒效應(yīng)測(cè)試卡TE173設(shè)計(jì)用于測(cè)量鋸齒。測(cè)試卡由矩形條組成，其空間頻率取決于所使用的圖像寬度。

鋸齒效應(yīng)是由兩個(gè)光柵的干涉引起的moiré失真。獨(dú)立于相機(jī)類型，鋸齒效應(yīng)可能由于動(dòng)態(tài)光柵和TV線結(jié)構(gòu)的干擾而產(chǎn)生。眾所周知的百葉簾效應(yīng)或紡織條紋圖案。

CCD相機(jī)具有由空間圖像采樣引起的特殊的內(nèi)在混疊問(wèn)題。在相機(jī)輸出處獲得的信號(hào)的頻譜受到在CCD采樣頻率的倍數(shù)周圍重復(fù)的基本頻譜的損害。 CCD采樣頻率取決于CCD尺寸和每個(gè)CCD寬度的像素?cái)?shù)量。對(duì)于圖像的一些高空間頻率，不滿足由采樣定理規(guī)定的條件，使得基本頻譜和復(fù)制頻譜可以被疊加并且引起頻率間跳動(dòng)。結(jié)果就是在圖片中的摩爾紋。

摩爾紋的可視性取決于分析儀的類型，相機(jī)的低通光學(xué)濾波以及所分析的測(cè)試圖案的空間頻率。

在圖像區(qū)域的頂部和底部繪制有水平線，在該水平線上要進(jìn)行的框架標(biāo)記，以便通過(guò)縮放來(lái)修改由照相機(jī)看到的空間頻率。

可以使用頻譜分析儀或?qū)拵б曨l示波器進(jìn)行測(cè)量程序。

測(cè)量條件

伽瑪校正：關(guān)閉

輪廓校正：關(guān)閉

顏色校正：打開(kāi)

頻譜分析儀測(cè)量

測(cè)量原理在于，在亮度信號(hào)Y或編碼Y的光譜分析上，依次定位R，G，B;干擾線由采樣產(chǎn)生。照相機(jī)在給定的空間頻率下在測(cè)試圖上對(duì)準(zhǔn)。攝像機(jī)輸出與頻譜分析儀的輸入相連。調(diào)整光圈，使得白電平對(duì)應(yīng)于700mV / 75歐姆的視覺(jué)信號(hào)。基座設(shè)置為0mV。

如果水平CCD像素的數(shù)量是已知的，則可以計(jì)算容易位于分析儀屏幕上的采樣頻率：

采樣F（MHz）=水平像素?cái)?shù)/ 52

干擾線的頻率由采樣頻率和測(cè)試模式頻率之間的差給出：

干擾F =采樣F — 測(cè)試模式F

測(cè)量涉及確定測(cè)試圖案頻率處的有用信號(hào)與干擾頻率處的信號(hào)之間的電平差。必須對(duì)每個(gè)空間頻率重復(fù)測(cè)量并進(jìn)行幾次（約10次）以確定平均結(jié)果。

TE173鋸齒效應(yīng)測(cè)試卡參數(shù):

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